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日本半导体MM测试仪

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  • 发布日期:2023-11-13 10:26
  • 有效期至:长期有效
  • 商机区域:全国
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详细说明
  日本半导体MM测试仪

日本半导体MM测试仪产品规格:

1200 C: D-CDM/F-CDM()●1200 EL(ESD/闩锁测试机台)●1200 ELC(ESD/闩锁/CDM 测试机台)产品用途1200系列的4种功能:HBM、MM、闩锁和CDM在一个系统中 ,1350引脚对测试可用(使用专用DUT板在非电源引脚和电源引脚之间时)。本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。


 

日本半导体MM测试仪产品详情:

*1 MM 标准 400V。可施加 2KV,但在高电压状态下持续试验会导致继电器劣化。  

*2 需要示波器、电流探头、衰减器(20dB)。关于对应的产品,请另外商谈。  

*3 CDM 波形保证范围为±2000V,空气放电时受到湿度、接触部的构造、污染等影响, 波形有可能会有很大变化。  

*4 每个电源都具有闭锁检测功能和电源过压测试功能。  

*5 测试范围由 Vsupply 而定。

*6 需使用热电缆和外部测试夹具。  

*7 该系统使用的组件包括水银。请按照法律处理含有汞的组件。
https://www.chem17.com/st573720/product_37973122.html
http://www.tzelec.cn/SonList-2474394.html

原文链接:http://www.mzyin.com/shangji/show-7788.html,转载和复制请保留此链接。
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