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LA-S植物叶面图像分析系统
用途：LA-S植物叶面分析系统用于植物叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、严重虫损叶面积分析、叶色分档分析等，配置相应的扫描设备即可在野外便携使用。
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技术规格：
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硬件指标： |
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光学分辨率 |
9600×9600 dpi |
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尺寸 |
286×409×43mm |
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重量 |
约2.1kg |
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供电 |
USB口，可野外配合笔记本进行工作 |
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拍摄箱 |
封闭式扫描、无直射强光干扰 |
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最大分析测量面积 |
300mm×210mm |
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分辨的最小尺寸 |
0.008 ×0.008 mm |
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图像分析测量精度 |
X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25% |
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长度测量重现性误差 |
<±0.25% |
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面积测量重现性误差 |
<±0.25% |
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台间测量差异 |
<±0.25% |
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测量总时间 |
30~60秒 |
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软件功能： |
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分析测量 |
可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm2的叶片。叶面积 (可累计面积)、叶片面积（可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，真彩的病斑、虫损面积分析（含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析），叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价)。 |
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人工辅助修正 |
图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正 |
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统计效果监视 |
监视和修正植物对象分析的精度 |
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自动杂质剔除 |
根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除 |
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辅助测量功能 |
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量； |
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数据报表导出 |
分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用 |