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交联聚乙烯绝缘架空电缆热老化对结晶形态的影响以及生产制造过程{一}、交联聚乙烯绝缘架空电缆热老化对结晶形态的影响
不同老化温度下试样DSC曲线随老化时间的变化规律。DSC曲线离开基线的位移，代表样品吸热或放热的速率；曲线中的峰或谷所包围的面积，代表热量的变化。
在100℃下老化，随着老化时间的延长，塑力电线电缆绝缘材料熔融温度，向高温方向移动，并在120℃附近达到饱和。低温老化促进交联聚乙烯绝缘架空电缆绝缘材料结晶完善，老化过程中XLPE球晶尺寸变大。
在140℃下，熔融峰面积随老化时间的延长而变小，并且老化一定时间后老化交联聚乙烯绝缘架空电缆绝缘材料DSC曲线中出现两个熔融温度。140℃老化对绝缘材料结晶有破坏作用，老化时间足够长时XLPE内开始出现晶体分离，出现两个球晶尺寸，并且结晶度变小。
在160℃老化过程中随老化时间的延长，DSC曲线中出现晶体分离，随老化时间推移向低温方向移动，材料熔融峰面积随老化时间的延长而变小。表明高温老化对XLPE结晶区有破坏作用，球晶尺寸减小，结晶度降低。
交联聚乙烯绝缘架空电缆老化过程中不同温度对交联聚乙烯绝缘架空电缆绝缘熔融温度影响规律不同，在100~140℃老化过程中，XLPE熔融温度及熔融烩随老化时间的延长变化缓慢；而在140~160℃老化过程中，XLPE熔融温度及熔融烩随老化时间的延长急剧下降。
{二}、聚乙烯电缆生产制造过程
聚乙烯电缆在生产制造过程中，由于制造工艺的限制以及人为掺杂特定添加剂，使得实际使用的聚乙烯电缆绝缘并非完全纯净，从而不可避免的引入缺陷；而在长期运行过程中，塑力电缆绝缘逐渐劣化，缺陷逐渐增多。根据缺陷的成因，电介质中的缺陷可分为物理缺陷和化学缺陷。物理缺陷指聚合物内部物理结构的变化产生的陷阱，化学缺陷指化学键断裂或杂质引入的分子结构层面的陷阱。聚乙烯电缆绝缘的生产采用挤包制造工艺，利用交联剂在导体上依次挤上内半导电屏蔽层、绝缘层和外半导电屏蔽层，连续地在硫化管中交联，并经冷却制造成所需规格的绝缘线芯。在挤包和冷却过程中，由于受力不均衡、重力挤压、热传导和冷却不平衡等原因，聚乙烯电缆绝缘的不同层面、不同位置的物理结构会呈现差异化，比如聚乙烯电缆绝缘外层受高温环境和快速冷却的影响，晶体尺寸小、结晶度低。而在局部位置，由于绝缘料分布不均，可能会出现微小的尖刺、突起，或者微小的空隙、裂纹，这些都构成了物理缺陷。
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